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產(chǎn)品中心

Product Center

當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心材料樣品檢測(cè)真空探針臺(tái)

  • KT-Z1604T-RL高低溫探針臺(tái)

    測(cè)試夾具要求:可實(shí)現(xiàn)XYZ移動(dòng); 高低溫探針臺(tái)的詳細(xì)介紹測(cè)試腔:同時(shí)滿足靜態(tài)/動(dòng)態(tài)測(cè)試,304不銹鋼材質(zhì),可在紫外燈下保證氣密性測(cè)試; 測(cè)試樣品數(shù):同時(shí)測(cè)試8個(gè)樣品,可進(jìn)行頻率-阻抗測(cè)試、插指電極和場(chǎng)效應(yīng)管測(cè)試;

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604T-RL
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  • KT-Z1604TZ-RL分子泵≤10-3Pa真空探針臺(tái)

    分子泵≤10-3Pa真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。

    更新時(shí)間:2024-03-29
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604TZ-RL
    瀏覽量:1152
  • KT低溫-196-350℃真空探針臺(tái) 鄭科探廠家

    低溫-196-350℃真空探針臺(tái) 鄭科探廠家主要應(yīng)用于傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。

    更新時(shí)間:2024-03-27
    產(chǎn)品型號(hào):KT
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  • KT-Z1604TZ高溫35-350℃真空探針臺(tái)

    高溫35-350℃真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。

    更新時(shí)間:2024-03-27
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604TZ
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  • KT-Z1604TZ真空探針臺(tái)測(cè)試設(shè)備  高低溫測(cè)試臺(tái)

    真空探針臺(tái)測(cè)試設(shè)備 高低溫測(cè)試臺(tái)探針臂為X/Y/Z三軸移動(dòng),三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下精密移位調(diào)節(jié),其中X方向調(diào)節(jié)范圍:0-30mm;y方向調(diào)節(jié)范圍:0-20mm;z方向調(diào)節(jié)范圍:0-20mm;用戶可根據(jù)需要自行調(diào)節(jié)。使用時(shí)將需檢測(cè)的器件固定在加熱臺(tái)上,再微調(diào)探針支架X/Y/Z 方向行程,通過顯微鏡觀察,使探針對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)點(diǎn)后,即可進(jìn)行

    更新時(shí)間:2024-03-27
    產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604TZ
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